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SEM+EDS分析
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 SEM:利用阴极所发射的电子束经阳极加速,由磁透镜加速后形成一束直径为几十埃到几千埃的电子束流,这束高能电子束轰击到样品表面会激发多种信息,经过分别收集,放大就能从显示屏上得到各种相应的图像。

EDS入射电子束可停留在被观察区域上的任何位置.X射线在直径1微米的体积内产生,可对试样表面元素的分布进行质和量的分析,高能电子束轰击样品表面,激发各种信号。

可以对陶瓷、金属、粉末、塑料等样品进行形貌观察及成分分析:

‧SEM主要利用背散射电子(BEI)和二次电子(SEI)来成像。

‧EDS通过特征X-RAY获取样品表面的成分信息。

SEM+EDS分析(图1)

 

SEM+EDS分析(图2)
 
 

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