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手机可靠性测试之温度冲击试验

发布时间 :2021-11-26 16:20 浏览 :

 移动通信手持机可靠性技术要求和测试方法中讲解了移动通信手持机在关机状态下经受(30±3)℃/(-25±3)℃的温度冲击试验后,功能、外观及装配应符合相关标准的要求。具体试验方法为:

一、试验方法按GB/T 2423.22中相关规定进行。

二、试验的温度—时间变化曲线如下图所示。

手机可靠性测试之温度冲击试验(图1)

三、条件试验:将温度冲击试验箱中低温箱设置到(-25±3)℃,高温箱设置为(30±3)℃。试验样品装上配套的电池、不包装、不开机先放入低温箱内,在规定的储存温度下持续30min后,然后将试验样品移至高温箱内,在规定的储存温度下保持30min,然后再将试验样品移至低温箱进行下一个循环。按这样循环5次。

四、条件试验结束后,进行功能、外观及装配检测。


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