公司地址：深圳市龙华区民清路光辉科技园2号厂房1单元401
失效分析一般流程
1. 收集失效现场数据
2. 电学测量并确定失效模式
3. 非破坏性分析
4. 打开封装，镜检
5. 通电激励芯片
6. 失效定位
7. 对失效部位进行物理，化学分析
8. 综合分析确定失效原因，提出纠正措施
